1. X-blocking
使用EDT compactor压缩scan chain会导致X-blocking,compactor会将scan chain的observe值做异或运算,两条chain中的任意一条为X, edt channel output 都会observe X,这导致被mask的一条chain对应位置的cell所测fault不能被cover到,会影响test coverage。
2. scan chain masking
scan chain mask 有两种方式,一种是one-hot masking,一种是flexible masking。
one-hot masking每次只选择一条chain,其他chain都被mask,对compactor输出0,一般在non-masking 和fexible masking算法不能再有效的测出fault后使用。
flexible masking选择那些产生X state的chain mask,然后在output observe没有X state的pattern。这样可以在减少pattern count的同时最大化fault detection。